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Transmissions - Elektronenmikroskopie
Lichtmikroskopie

Philips EM 420 Stefan Diller am analytischen TEM / STEM / REM




Philips EM 420
analytisches TEM / ScanningTEM / REM
Beschleunigungsspannung 20 KV bis 120 KV
Probengoniometer mit speicherbaren Positionen
Getter-Pumpstand für ölfreies Vakuum
LaB6-Kathode
Multi-Detektorsystem mit folgenden Detektoren: 1 SE, 1 BSE, 2 STEM-Detektoren
Auflösungsgrenze ca. 0,13 Nanometer Punkt zu Punkt (Präparatabhängig) im TEM-Mode
Auflösungsgrenze ca. 4 Nanometer Punkt zu Punkt (Präparatabhängig) im REM-Mode
Energiedispersive Röntgenanalyse (EDAX 9100)
Elektronischer Bildeinzug im Bereich STEM / REM in Vorbereitung
Photographie auf Planfilm mit anschließender Digitalisierung im TEM-Mode



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